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金屬氧化物染料藥粉粒度檢測(cè)儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。
使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)-越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。
適用范圍：
金屬氧化物染料藥粉粒度檢測(cè)儀同時(shí)具有Zeta電位及納米粒徑的分析測(cè)試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測(cè)量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時(shí)也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測(cè)儀器。同時(shí)具有Zeta電位及納米粒徑的分析測(cè)試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測(cè)量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時(shí)也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測(cè)儀器。
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號(hào) | YT-JL601 | ||
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 19627-2005/ISO 13321-1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412-2008 | ||
測(cè)試范圍 | 1-10000nm（與樣品有關(guān)） | -500mV — +500mV | |
濃度范圍 | 0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān)) | ||
電泳遷移率范圍 | > ±20μm.cm/V.s | ||
最-高電導(dǎo)率 | 200mS/cm（取決于樣品） | ||
準(zhǔn)確度誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） | <15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） | |
重復(fù)性誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） | <15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） | |
激光光源 | 半導(dǎo)體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調(diào)） | ||
探測(cè)器 | 光電倍增管PMT | ||
散射角 | 90o | 18o | |
樣品池體積 | 10mm*10mm*40mm, 1--4mL | 10mm*10mm*60mm, 1mL | |
溫控范圍 | 5-45℃ | ||
溫控精度 | 0.1℃ | ||
測(cè)試速度 | <5 Min | ||
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù) | 規(guī)格型號(hào) | HA1024 | HA1024 |
自相關(guān)通道 | 892 | 892 | |
基線通道 | 4 | - | |
物理通道數(shù) | 5000 | - | |
延遲時(shí)間 | 1µs-10ms（可調(diào)） | 1µs-10ms（可調(diào)） | |
體積 | 560mm*450mm*280mm | ||
重量 | 20Kg | ||
產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
測(cè)試原理 | 采用電泳光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的電泳運(yùn)動(dòng)速度測(cè)定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運(yùn)動(dòng)的群體速度，激光照射這些顆粒，導(dǎo)致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。 |
超高速數(shù)據(jù)采集 | 本儀器的核心部件通過HA1024數(shù)字相關(guān)器，能實(shí)時(shí)完成電泳散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度的信息，為Zeta電位測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性奠定基礎(chǔ)。 |
高靈敏度信噪比 | |
高精度恒溫控制 | 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)0.1℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性 |
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) | 采用光學(xué)移頻裝置與光纖耦合技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。 |
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